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產(chǎn)品介紹

薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng) TCT 是采用 3ω測(cè)試方法，利用微/納米薄膜材料導(dǎo)熱引起加熱器電信號(hào)的變化來(lái)檢測(cè)其熱導(dǎo)率。主要應(yīng)用范圍為微/納米薄膜材料的熱導(dǎo)率測(cè)量，可廣泛應(yīng)用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發(fā)，其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、熱阻材料、熱電材料、信息存儲(chǔ)與光電材料等。

產(chǎn)品特點(diǎn)

采用3ω測(cè)試方法，利用微/納米薄膜材料導(dǎo)熱引起加熱器電信號(hào)的變化來(lái)檢測(cè)其熱導(dǎo)率；

不直接測(cè)量溫度變化，而是通過(guò)測(cè)量材料在導(dǎo)熱過(guò)程中溫度的變化轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的變化，來(lái)實(shí)現(xiàn)微/納米薄膜材料的熱導(dǎo)率測(cè)試；

采用交流電加熱方式，同時(shí)選擇并優(yōu)化設(shè)計(jì)加熱電極的形狀與尺寸，可確保加熱均勻性及測(cè)試應(yīng)用的廣泛性；

待測(cè)薄膜樣品材料尺寸極小，所以能有效減小黑體輻射引起的測(cè)量誤差；

高精度數(shù)字源表并結(jié)合鎖相放大技術(shù)，保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性；

優(yōu)化的加熱電極的形狀與尺寸設(shè)計(jì)，可保證加熱均勻性及測(cè)試應(yīng)用的穩(wěn)定性